62
Р 24


    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комолова ; ред. В. И. Петров. - Москва : Мир, 1984.
   Кн. 2. - 1984. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346
УДК
Дод.точки доступу:
Гоулдстейн, Дж.
Ньюбери, Д.
Эчлин, П.
Джой, Д.
Фиори, Ч.
Лившин, Э.
Гвоздовер, Р. С. \пер.\
Комолова, Л. Ф. \пер.\
Петров, В. И. \ред.\

Примірників всього: 1
КСХ (1)
Вільні: КСХ (1)